高精度高低溫試驗(yàn)箱

是根據(jù)用戶要求，參照GB2423[1].02高溫試驗(yàn)方法、GB2423[1].01低溫試驗(yàn)方法相應(yīng)技術(shù)條件制造?？蔀轭櫩蜏y試、檢測及試驗(yàn)電子電工元器件、零配件或相關(guān)工業(yè)行業(yè)的實(shí)驗(yàn)部門提供一個(gè)人工模擬環(huán)境，為測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和一致性（可重復(fù)）提供條件。

高精度高低溫試驗(yàn)箱

型號：THC-800PF

技術(shù)參數(shù)：

1.溫度范圍：-40℃～150℃
2.濕度范圍：20%～98%R.H
3.溫度均勻度：≤±2℃（空載時(shí)）
4.濕度均勻度：+2%-3%R.H
5.溫度波動度：≤±0.5℃（空載時(shí)）
6.濕度波動度：±2%
7.溫度偏差：≤±2℃
8.濕度偏差：≤±2%
9.降溫速率：0.7～1.0℃/min
10.升溫速率：1.0～3.0℃/min
11.時(shí)間設(shè)定范圍：0～999小時(shí)
12.電源電壓：380V±10%
13.設(shè)備總功率：3KW～15KW

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：

性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-2008 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求。

GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗(yàn)方法。

GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法。

GJB150.9-1986《設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法：濕熱試驗(yàn)》。

GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)恒定濕熱試驗(yàn)》。

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法GB 2423.1-2008 (IEC68-2-1)。

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法GB 2423.2-2008 (IEC68-2-2)。

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T 2423.3-2008（IEC68-2-3）。

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Da：交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T423.4-2008(IEC68-2-30)。