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光纖微裂紋檢測儀以白光干涉為原理，最初受限于延時纖的測量長度只能測試6cm，使得測試場景非常局限。經(jīng)過3年多的技術(shù)鉆研，在剛剛過去的2022年里，東隆科技研發(fā)工程師們攻克了這個難關(guān)，在光纖測量長度上實現(xiàn)了二連跳，1月測量長度從最初的6cm升級至12cm，10月測量長度從12cm升級至40cm。到了2023年年初，光纖微裂紋檢測儀測量長度直接升級至1m，快速實現(xiàn)三級跳。然而我們每一次的系統(tǒng)技術(shù)優(yōu)化升級，都是為用戶提供更好的產(chǎn)品和服務(wù)體驗。
本次，光纖微裂紋檢測儀測量長度升級到1m,不僅為用戶解決匹配跳線、測試繁瑣等問題。而且還能更大限度的包容待測樣品，并為測試器件留有更大空間，讓用戶使用起來更便捷。此外，在設(shè)備測試性能和穩(wěn)定性也有了質(zhì)的飛躍，在升級長度過程中，會不斷迭代已有的光路和模塊，進(jìn)行長時間的實驗驗證，以優(yōu)化的結(jié)構(gòu)，提升設(shè)備測試效果為目的。
下圖為光纖微裂紋檢測儀測量保偏光鏈路，該器件長0.955m,末端是保偏光纖，OLI能測試出由保偏光纖雙折射引起的2個不同時延峰值。OLI以1μm的采樣分辨率能清晰判別出鏈路中光模塊的好壞以及光纖裂紋檢測。
保偏光鏈路測試圖
東隆科技推出的光纖微裂紋檢測儀叫做低成本光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)（OLI），該系統(tǒng)通過讀取最終干涉曲線的峰值大小，精確測量整個掃描范圍內(nèi)的回波損耗， 進(jìn)而判斷此測量范圍內(nèi)鏈路的性能，其事件點定位精度高達(dá)幾十微米，最小可探測到-80dB光學(xué)弱信號， 廣泛用于光纖或光器件損傷檢測以及產(chǎn)品批量出貨合格判定。
低成本光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)（OLI）
產(chǎn)品特點
? 1μm采樣分辨率
? -80dB動態(tài)范圍
? 1m測量長度
產(chǎn)品應(yīng)用
? 光纖微裂紋檢測
? 硅光芯片、PLC波導(dǎo)瑕疵損耗檢測
? FA光纖陣列鏈路性能檢測
? 光器件、光模塊內(nèi)部耦合點、連接點性能檢測
