光學(xué)顯微鏡首先將待測(cè)的微小顆粒放大，并成像在CCD攝像機(jī)的光敏面上；攝像機(jī)將光學(xué)圖像轉(zhuǎn)換成數(shù)字圖片信息，然后傳輸并存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)系統(tǒng)里。

計(jì)算機(jī)對(duì)接收到的數(shù)字化了的顯微圖像信息進(jìn)行二值化處理，識(shí)別顆粒的輪廓。然后按照一定的等效模式，計(jì)算各個(gè)顆粒的粒徑、圓度等物理參數(shù)。一般而言，一幅圖像（即圖像儀的一個(gè)視場(chǎng)）包含幾個(gè)到上百個(gè)不等的顆粒。

圖像儀能自動(dòng)計(jì)算視場(chǎng)內(nèi)所有的顆粒的粒徑，并統(tǒng)計(jì)，形成粒度報(bào)告、圓度報(bào)告等。當(dāng)已經(jīng)測(cè)到的顆粒數(shù)不夠多時(shí)，可以通過調(diào)整顯微鏡的載物臺(tái)，換到下一個(gè)視場(chǎng)，繼續(xù)測(cè)試并累計(jì)。

PIP8.1型顆粒圖像分析儀可獨(dú)立測(cè)定粉體/乳液顆粒粒度分布，亦可用于其他粒度測(cè)試方法的輔助判斷分析，是我國(guó)現(xiàn)行金剛石微粉粒度測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)的推薦儀器。PIP8.1型顆粒圖像處理儀適用于磨料、涂料、非金屬礦、化學(xué)試劑、填料等各種粉末顆粒的粒度測(cè)量、形貌觀察和分析，能給出不同等效原理（如等面積圓、等效短徑等）的粒度分布，能直接觀察顆粒分散狀況、粉體樣品的大致粒度范圍、是否存在低含量的大顆粒或小顆粒情況等等。