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美國ILT SED270 紫外線測量系統(tǒng)技術(shù)參數(shù)
閱讀：224 發(fā)布時間：2024-5-9美國ILT SED270 紫外線測量系統(tǒng)
工作臺研究紫外光測量系統(tǒng)
光學(xué)分析的10多個進階單位動態(tài)范圍
Pico-ammeter：10fA至1mA（從100fA至1mA校準）
無線通信：內(nèi)置
美國ILT SED270 紫外線測量系統(tǒng)用戶控制或自動：范圍、歸零/暗零、采樣率
4-20 mA輸出
15針D Sub和SMA輸入端口
“Set it & Forget It"遠程數(shù)據(jù)記錄
電源：USB或內(nèi)置充電電池組
多系統(tǒng)同時連續(xù)監(jiān)測
包括DataLight II軟件和Labview采樣代碼
NIST可追溯/ISO17025認證校準
采樣率高達100 Hz，可編程
低壓汞燈測量用高強度殺菌/UV測量系統(tǒng)。可與我們的NS254窄帶濾光片相結(jié)合，測量所有類型紫外線源（包括氙、汞、LED等）的254 nm輸出。
測量范圍SED270/QT:1e-9至1 W/cm2
測量范圍SED270/NS254/QT:4e-9至3 W/cm2
光譜范圍：215–350 nm（249-259 nm，帶NS254濾光片）
尺寸：直徑60 mm x 42 mm。（65 x 42毫米，帶濾光片）
注：1、探頭可在SED270/QT和SED270/NS254/QT中選擇一個。2、配置中不包含平板電腦