光散射：

　　光散射是指光線通過不均勻的介質(zhì)而偏離其原來的傳播方向并散開到所有方向的現(xiàn)象。產(chǎn)生散射光，顆粒大時(shí)散射光信號強(qiáng)，散射光光強(qiáng)與顆粒粒徑成正比。

　　優(yōu)點(diǎn)：操作簡便，測試速度快，測試范圍大，重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可實(shí)現(xiàn)在線測量和干法測量。

　　缺點(diǎn)：結(jié)果受分布模型影響較大，儀器造價(jià)較高。

　　動(dòng)態(tài)圖像法：

　　由顯微鏡、高速攝像機(jī)、樣品分散系統(tǒng)、控制系統(tǒng)以及高速圖像分析軟件組成。

　　優(yōu)點(diǎn)：顆粒圖像直觀清晰，操作簡便、拍攝與分析速度快、重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可干法也可濕法，可測量最大顆粒，可進(jìn)行圓形度、長徑比等形貌分析。

　　缺 點(diǎn)：分析細(xì)顆粒(如-2 μm )圖像不清晰，誤差較大，成本較高。

　　靜態(tài)圖像法(顯微鏡法)：

　　由顯微鏡、攝像機(jī)和圖像分析軟件組成。

　　優(yōu)點(diǎn)：成本較低，操作簡單，圖像清晰、可進(jìn)行圓形度、長徑比等形貌分析。

　　缺點(diǎn)：分析速度慢，無法分析細(xì) 顆粒(如-2 μm )。

　　電鏡法：用電子顯微鏡(掃描電鏡或透射電鏡)拍攝顆粒圖像，然后再進(jìn)行圖像 分析的方法。

　　優(yōu)點(diǎn)：能精確分析納米顆粒和超細(xì)顆粒，圖像清晰，表面紋理可見，分辨率高，是表征納米材料粒度的標(biāo)準(zhǔn)方法。

　　缺點(diǎn)：單幅圖像中的顆粒數(shù)少、代表性差、儀器價(jià)格昂貴。

　　光阻法：

　　當(dāng)液體中的微粒通過一窄小的檢測區(qū)時(shí)，與液體流向垂直的入射光，由于被不溶性微粒所阻擋，從而使傳感器輸出信號變化，這種信號變化與微粒的截面積成正比，光阻法檢查注射液中不溶性微粒即依據(jù)此原理。

　　優(yōu)點(diǎn)：測試速度快，可測液體或氣體中顆粒數(shù)，分辨力高，樣品用量少。

　　缺點(diǎn)：進(jìn)樣系統(tǒng)比較復(fù)雜，不適用粒徑<1μm 的樣品。

　　電阻法：

　　電阻法(庫爾特)顆粒計(jì)數(shù)器粒度測量原理是小孔電阻原理。小孔管浸泡在電解液中，小孔管內(nèi)外各有一個(gè)電極，電流通過孔管壁上的小圓孔從陽極流到陰極。小孔管內(nèi)部處于負(fù)壓狀態(tài)，因此管外的液體將流動(dòng)到管內(nèi)。測量時(shí)將顆粒分散到液體中，顆粒就跟著液體一起流動(dòng)。當(dāng)其經(jīng)過小孔時(shí)，小孔的橫截面積變小，兩電極之間的電阻增大，電壓升高，產(chǎn)生一個(gè)電壓脈沖。當(dāng)電源是恒流源時(shí)，可以證明在一定的范圍內(nèi)脈沖的峰值正比于顆粒體積。儀器只要測出每一個(gè)脈沖的峰值，即可得出各顆粒的大小，由各脈沖值即可統(tǒng)計(jì)出粒度的分布。

　　優(yōu)點(diǎn)：操作簡便，可測顆粒數(shù)，等效概念明確，速度快，準(zhǔn)確性好。

　　缺點(diǎn)：不適合測量超細(xì)樣品和寬分布樣品，更換小孔管比較麻煩。

　　沉降法：

　　沉降法是指粒度分析(settlinganalysis)通過檢測物料顆粒在介質(zhì)中的沉降速度進(jìn)行物料粒度分析，確定其粒度組成的技術(shù)。

　　優(yōu)點(diǎn)：操作簡便，儀器可以連續(xù)運(yùn)行，價(jià)格較低，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好，測試范圍較大。

　　缺點(diǎn)：測試時(shí)間較長，操作較復(fù)雜，結(jié)果易受環(huán)境因素影響。

　　篩分法：

　　將解散后的碎屑顆粒倒人一套孔徑不同的標(biāo)準(zhǔn)篩中，通過充分振篩，將不同粒級的碎屑顆粒充分分開，稱量各粒級碎屑顆粒質(zhì)量，求得碎屑顆粒的粒度分布范圍。

　　優(yōu)點(diǎn)：簡單、直觀、設(shè)備造價(jià)低，常用于大于 38 μm (400 目)的樣品。

　　缺點(diǎn)：不能用于超細(xì)樣品；結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。

　　動(dòng)態(tài)光散射法：

　　動(dòng)態(tài)光散射法是測試納米材料粒度分布的常用方法。首先將納米顆粒放到合適的液體(通常為純凈水)中制成懸浮液，懸浮液中的納米顆粒由于受到 水分子熱運(yùn)動(dòng)(布朗運(yùn)動(dòng))的碰撞而進(jìn)行不規(guī)則運(yùn)動(dòng)。當(dāng)一束水平偏振的激光照射到這些顆粒上時(shí)，會在引起的散射光強(qiáng)的瞬間變化。這些瞬間變化的散射光信號的幅度、頻率等特征與顆粒大小有關(guān)，對這些信號進(jìn)行相關(guān)運(yùn)算就可以得到呢米顆粒的粒度分布了。.

　　優(yōu)點(diǎn)：測試范圍寬(從納米到微米)、測試速度快，重復(fù)性好，操作簡便。缺點(diǎn)：測試寬分布的納米材料誤差及較大。