二手日本電子（SEM）IT-300產(chǎn)品參數(shù)

日本電子掃描電鏡JSM-IT300

二手日本電子（SEM）IT-300電子光學系統(tǒng)的高質量成像

JSM-IT300 提供高畫質圖像，能滿足您對 W-SEM 機型的期待，鏡筒設計和掃描系統(tǒng)使得不導電樣品的圖像質量有所提高

二次電子像

通過高真空二次電子像觀察到的蝴蝶鱗粉?？梢杂酶叩姆直媛视^察微觀結構。

背散射電子像

通過在低加速電壓下觀察背散射電子成份像，能觀察到每個碳化鎢顆粒的通道襯度。

掃描系統(tǒng)使低加速電壓下的圖像質量更高

幀累積法能制止荷電效應，對易充電的樣品可以輕松地進行觀察。

掃描方式能減輕樣品的帶電，不易受到樣品漂移的影響，即使是容易充電的樣品，能在高倍率下的得到高清的圖像質量

低真空模式

差動抽氣系統(tǒng)

差動抽氣系統(tǒng)提高了低真空模式下的圖像質量，此外，低真空模式的至大

壓力可高達 650Pa，進一步擴大了應用范圍。

低真空擴展了壓力 ：高達 650Pa

含有大量水分的軟樣品可能會由于樣品室內的壓力而無法保持原有的結構，這樣的

樣品不進行特殊處理就無法觀察。但低真空壓力范圍擴展到 650 Pa 就可以進行觀

察，即使沒有特殊處理對樣品的損傷也很小。

低真空二次電子像

即使是低真空模式下，通過低真空二次電子像也能清晰地觀察有機材料的表面細節(jié)。

EDS 集成化 EDS 一觸式分析

JSM-IT300A/LA

JEOL 是世界上一家集開發(fā)、制造和銷售于一身的 SEM 和 EDS 制造商。在觀察和分析過程中，輕觸屏幕即可進行分析。

一觸式分析

在 SEM 的操作界面上，只需輕觸圖標就可以執(zhí)行基本的分析功能。JEOL 的 SEM 和 EDS 一體化集成，提高了通量和易用性。

基本的分析操作，在 SEM 的 GUI 上一觸即成。

在 SEM 的 GUI 上，輕觸屏幕即可執(zhí)行基本的分析操作。