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　　從頻閃光源發(fā)出的頻閃光，經(jīng)過(guò)光束擴(kuò)束器，得到平行的頻閃光，在測(cè)試區(qū)域頻閃光照射在分散好的單個(gè)顆粒上，經(jīng)過(guò)擁有專li的光學(xué)成像系統(tǒng)，得到每個(gè)顆粒清晰的圖像和全部樣品的粒度分布。

　　圖像顆粒分析儀器的分類有靜態(tài)和動(dòng)態(tài)、干法和濕法、在線和實(shí)驗(yàn)室、光學(xué)顯微鏡和電子顯微鏡等。樣品的粒度范圍包括宏觀塊狀物體、粒狀顆粒、微米和納米粉，是一項(xiàng)應(yīng)用面廣泛的技術(shù)。隨著顯微鏡技術(shù)、成像技術(shù)和圖像分析技術(shù)的，圖像顆粒分析技術(shù)越來(lái)越受到顆粒界的矚目，應(yīng)用領(lǐng)域越來(lái)越廣，預(yù)計(jì)在不久的將來(lái)，圖像顆粒分析技術(shù)將成為粉體表征的zui主要的手段。