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電磁式膜厚計直角探頭
是用于Kett LE-370/LZ-370/LE-200J/LZ-200J/LE-373/LZ-373電磁膜厚儀的探頭。
注：L-500型膜厚儀的電磁式探頭為EP-110；內(nèi)置存儲芯片。
產(chǎn)品規(guī)格（Specification）：
| 產(chǎn)品描述 | 電磁式L字型プローブ | |
| Electromagnetic Right Ange Probe | ||
| 電磁式膜厚計直角探頭 | ||
| 產(chǎn)品型號 | LEP-21L | |
| 測量對象 | 磁性金屬上的非磁性涂層 | |
| 測量范圍 | LE-370/LZ-370/LE-373/LZ-373 | 0-2500μm 或 99.0mils |
| LE-200J/LZ-200J | 0-1500μm 或 60.0mils | |
| 產(chǎn)品尺寸 | φ15×25×57 mm（不包括電纜和連接器） | |
| 電纜長度 | 1.2 m | |
| 產(chǎn)品重量 | 120 g | |
使用方法（How to use）：
請仔細閱讀膜厚儀主機使用說明書后再使用。使用該探頭進行初次測量時，為了獲得正確的測量值，使用膜厚儀時請務必進行調(diào)整（校正）。
使用時的注意事項（Handling precautions）：
若探頭尖部損傷或附著污漬，將無法進行準確的測量。請勿在測量表面上敲打探頭，或?qū)⑻筋^按在測量表面上拖動。測量后，請用沾有稀釋劑、酒精等清潔劑的軟布清潔探頭尖部。