三箱式冷熱循環(huán)沖擊測(cè)試箱

一、主要技術(shù)指標(biāo):

溫度范圍：

高溫箱： +60℃～180℃

低溫箱： 0℃～-70℃

溫度波動(dòng)度：±0.5℃

溫度均勻：±2℃;

升溫速率：≤5℃/min

降溫速率：≤5℃/min

預(yù)冷下限溫度：≤-70℃;

溫度范圍：B:-40~+150℃、C:-55~+150℃、D:-60~+150℃

電源：380V±10﹪50Hz

二、產(chǎn)品型號(hào)及技術(shù)參數(shù)：（W×H×D mm）

JR-WD-50 內(nèi)箱尺寸：350×350×400 外箱尺寸：1560×1750×1440

JR-WD-80 內(nèi)箱尺寸：500×400×400 外箱尺寸：1700×1800×1440

JR-WD-100 內(nèi)箱尺寸：600×400×400 外箱尺寸：1800×1800×1440

JR-WD-150 內(nèi)箱尺寸：600×500×500 外箱尺寸：1800×1900×1540

JR-WD-252 內(nèi)箱尺寸：700×600×600 外箱尺寸：1900×2000×1640

JR-WD-480 內(nèi)箱尺寸：800×800×750 外箱尺寸：2020×2250×2150

三、三箱式冷熱循環(huán)沖擊測(cè)試箱用途

  冷熱沖擊試驗(yàn)箱又名高低溫沖擊試驗(yàn)箱、中國(guó)臺(tái)灣稱為冷熱沖擊機(jī)，用于電子電器零元件、自動(dòng)化零部件、通訊元件、汽車(chē)配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國(guó)防工業(yè)、 航太、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子晶片IC、 半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件，無(wú)一不需要它的理想測(cè)試工具。

　　冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)，用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度, 藉以在最短時(shí)間內(nèi) 試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害.適用的對(duì)象包括金屬, 塑料, 橡膠, 電子....等材料,可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。

四、執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)

1、GB/T2423.1-2001低溫試驗(yàn)方法; 2、GB/T2423.2-2001高溫試驗(yàn)方法; 3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)N; 4. GJB150.3-86; 5. GJB150.4-86; 6. GJB150.5-86;7、GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn); 8、GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn);9、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn)。 10、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式 11、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式 ,12、滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化 10、GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則 11、GB/T 2423.22-2002溫度變化 12、QC/T17-92汽車(chē)零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則, 13、EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估

五、制冷系統(tǒng)：
制冷壓縮機(jī)：*法國(guó)泰康壓縮機(jī)，采用復(fù)疊式制冷
蒸發(fā)器：翅片管式換熱器
冷凝器：殼管式換熱器
節(jié)流裝置：熱力膨脹閥、毛細(xì)管
蒸發(fā)冷凝器：不銹鋼釬焊板式換熱器