一、電子組件溫度沖擊試驗(yàn)機(jī)操作流程

一般來說，溫度沖擊試驗(yàn)箱操作分為五部走：預(yù)處理、初始檢測(cè)、試驗(yàn)、恢復(fù)、zui后檢測(cè)。下面恒泰豐科和大家一起分享一下詳細(xì)流程內(nèi)容：

1.預(yù)處理：將被測(cè)樣品放置在正常的試驗(yàn)大氣條件下，直至達(dá)到溫度穩(wěn)定。

2.初始檢測(cè)：將被測(cè)樣品與標(biāo)準(zhǔn)要求對(duì)照，符合要求后直接放入高低溫沖擊試驗(yàn)箱內(nèi)即可。

3.試驗(yàn)：

1)試驗(yàn)樣品應(yīng)按標(biāo)準(zhǔn)要求放置在試驗(yàn)箱內(nèi),并將試驗(yàn)箱(室)內(nèi)溫度升到點(diǎn)，保持一定的時(shí)間至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時(shí)間長都為準(zhǔn)。

2)高溫階段結(jié)束后，在5min內(nèi)將試驗(yàn)樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到-55℃的低溫試驗(yàn)箱(室)內(nèi)，保持1h或者直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時(shí)間長都為準(zhǔn)。

3)低溫階段結(jié)束后，在5min內(nèi)將試驗(yàn)樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到70℃的高溫試驗(yàn)箱(室)內(nèi)，保持1h或者直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時(shí)間長都為準(zhǔn)。

4)重復(fù)上述實(shí)驗(yàn)方法,以完成三個(gè)循環(huán)周期。根據(jù)樣件大小與空間大小，時(shí)間可能會(huì)略有誤差。

4. 恢復(fù)：試驗(yàn)樣品從試驗(yàn)箱內(nèi)取出后，應(yīng)在正常的試驗(yàn)大氣條件下進(jìn)行恢復(fù)，直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定。

5.zui后檢測(cè)：對(duì)照標(biāo)準(zhǔn)中的受損程度及其它方法進(jìn)行檢測(cè)結(jié)果評(píng)定。

二、電子組件溫度沖擊試驗(yàn)機(jī)原理

     溫度沖擊試驗(yàn)箱用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件，無一不需要它的理想測(cè)試工具。

三、電子組件溫度沖擊試驗(yàn)機(jī)特點(diǎn)

     溫度沖擊試驗(yàn)箱根據(jù)試驗(yàn)需求及測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)分為三箱式和兩箱式，區(qū)別在于試驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。三箱式分為蓄冷室，蓄熱室和試驗(yàn)室，產(chǎn)品在測(cè)試時(shí)是放置在試驗(yàn)室。兩箱式分為高溫室和低溫室，是通過電機(jī)帶動(dòng)提籃運(yùn)動(dòng)來實(shí)現(xiàn)高低溫的切換，產(chǎn)品放在提籃里，是隨提籃一起移動(dòng)的。

二箱式 溫度沖擊試驗(yàn)箱特色

1）*的造型設(shè)計(jì)，操作簡(jiǎn)易之面板接口

2）采用日制*彩色觸控LCD中/英微電腦溫濕度控制器。

3）具有程序建文件及檔案管理之功能。

4）無紙式記錄功能，具實(shí)時(shí)顯示溫度沖擊試驗(yàn)變化之曲線圖及記錄雙重功能。

5）冷熱沖擊機(jī)械移動(dòng)時(shí)間在10秒內(nèi)，可符合MIL，IEC，JIS等規(guī)范。

6）冷熱沖擊溫度恢復(fù)時(shí)間在5秒內(nèi)，可符合相關(guān)試驗(yàn)規(guī)范。

7）采用HFC環(huán)保冷媒，二元超低溫冷凍系統(tǒng)設(shè)計(jì)，降溫快效率高。

8）*的中/英文版聯(lián)機(jī)操作、設(shè)定、記錄軟件包。

9）可擴(kuò)充：1、溫度記錄器2、LN2快速降溫控制系統(tǒng)

           3、RS-485通信接口裝置，可與個(gè)人計(jì)算機(jī)同時(shí)進(jìn)行局域網(wǎng)絡(luò)聯(lián)機(jī)監(jiān)控及記錄。

三箱式 溫度沖擊試驗(yàn)箱特色

1） 此設(shè)備分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分，采用*之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱、蓄冷效果，應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入試品中，做冷熱沖擊測(cè)試，待測(cè)品為不移動(dòng)之方式。

2）采用原裝日制微電腦大型液晶LCD（302*240 Dots）中英文顯示控制系統(tǒng)。

3）高程序記憶容量，可設(shè)定儲(chǔ)存100組程序，zui大循環(huán)設(shè)定9999 Cycles，每段時(shí)間zui大設(shè)定999 Hrs 59Mins。

4）具有RS-232C通信接口裝置，可與計(jì)算機(jī)聯(lián)機(jī)操控/編輯/記錄及二組動(dòng)態(tài)接點(diǎn)(Time Signal Relay)，使用便捷。

5） 執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí)，可選擇2Zone或3Zone之功能。

6） 具備全自動(dòng)，高精密系統(tǒng)回路、任一機(jī)件動(dòng)作，*由P.L.C鎖定處理。

7）機(jī)器故障時(shí)，配有自動(dòng)機(jī)回路及警示號(hào)。

8） 發(fā)現(xiàn)輸入電力不穩(wěn)定時(shí)，具有緊急停機(jī)裝置。

9）可擴(kuò)充：1、液態(tài)氮低溫輔助系統(tǒng)            2、溫度自動(dòng)記錄器

            3、RS-485多機(jī)版局域網(wǎng)絡(luò)聯(lián)機(jī)監(jiān)控及記錄之軟件。

四、電子組件溫度沖擊試驗(yàn)機(jī)滿足標(biāo)準(zhǔn)

    1、GB/T2423.1-2001低溫試驗(yàn)方法；
　　2、GB/T2423.2-2001^[1]；
　　3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)N；
　　4. 國軍標(biāo)GJB150.3-86；
　　5. 國軍標(biāo)GJB150.4-86；
　　6. 國軍標(biāo)GJB150.5-86；
　　7、GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)；
　　8、GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；
　　9、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn)；
　　10、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式；
　　11、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式；
　　12、滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化；
　　10、GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則；
　　11、GB/T 2423.22-2002溫度變化；
　　12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則；
　　13、EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估。

五、電子組件溫度沖擊試驗(yàn)機(jī)規(guī)格參數(shù)