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14產(chǎn)品分類(lèi)品牌分類(lèi)
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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
薄膜擊穿電壓測(cè)試儀的主要應(yīng)用
薄膜擊穿電壓測(cè)試儀的主要應(yīng)用
薄膜擊穿電壓測(cè)試儀是一種廣泛應(yīng)用于多種領(lǐng)域的精密測(cè)量設(shè)備，主要用于測(cè)量材料在電場(chǎng)作用下的絕緣性能和擊穿電壓。
華測(cè)50點(diǎn)隔膜擊穿耐壓試驗(yàn)儀主要用于電氣用鋰電池隔膜，聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下每平方米的擊穿電壓值。采用計(jì)算機(jī)控制，通過(guò)人機(jī)對(duì)話方式可對(duì)試驗(yàn)過(guò)程中的各種數(shù)據(jù)進(jìn)行快速、準(zhǔn)確的采集、處理，并可存取、顯示、打印。
主要優(yōu)勢(shì):
1、一鍵自動(dòng)化測(cè)試，批量測(cè)量50個(gè)測(cè)試點(diǎn)免除了許多外來(lái)因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。
2、測(cè)試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。
3、主要元器件均選用品牌（如歐姆龍，美信，ABB等），有效地保證了設(shè)備的可靠性、耐用性和穩(wěn)定性。
4、測(cè)量準(zhǔn)確，復(fù)現(xiàn)性好。
5、測(cè)試過(guò)程采用電子技術(shù)全自動(dòng)控制。無(wú)需人工干預(yù)。
6、測(cè)試電壓可調(diào)整，批量導(dǎo)出測(cè)試數(shù)據(jù)。
7、擊穿電流在0～40mA連續(xù)可調(diào)，復(fù)現(xiàn)性好。
8、多重保護(hù)功能，充分考慮了操作人員及設(shè)備的安全性。
9、過(guò)壓、過(guò)流、接地保護(hù)，試驗(yàn)平臺(tái)高壓開(kāi)啟保護(hù)。
應(yīng)用范圍：
1. 電子產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)
通過(guò)薄膜擊穿電壓測(cè)試儀的檢測(cè)，可以有效地發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品中的絕緣缺陷，從而提高電子產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。
2. 材料性能評(píng)估
該測(cè)試儀通過(guò)對(duì)不同材料的擊穿電壓進(jìn)行測(cè)試，可以了解材料的絕緣性能、耐電強(qiáng)度等關(guān)鍵指標(biāo)，為材料的選擇和應(yīng)用提供科學(xué)依據(jù)。
3. 絕緣性能研究
薄膜擊穿電壓測(cè)試儀可用于研究材料的絕緣性能，分析絕緣失效的機(jī)理，為優(yōu)化材料結(jié)構(gòu)、提高絕緣性能提供理論支持。
4. 安全性能測(cè)試
在高壓設(shè)備的運(yùn)行過(guò)程中，絕緣材料的性能直接關(guān)系到設(shè)備的安全性和穩(wěn)定性。通過(guò)薄膜擊穿電壓測(cè)試儀的測(cè)試，可以評(píng)估設(shè)備的安全性能，為設(shè)備的正常運(yùn)行提供有力保障。
5. 工藝控制改進(jìn)
薄膜擊穿電壓測(cè)試儀可用于監(jiān)測(cè)和控制薄膜制造過(guò)程中的工藝參數(shù)，發(fā)現(xiàn)工藝問(wèn)題，優(yōu)化工藝條件，提高薄膜的質(zhì)量和性能。