JEM-Z200FSC場發(fā)射冷凍電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
JEM-Z200FSC場發(fā)射冷凍電子顯微鏡場發(fā)射冷凍電子顯微鏡 JEM-Z200FSC CRYO ARM 200標(biāo)配冷場發(fā)射電子槍、柱體內(nèi)能量過濾器（Ω能量過濾...
JEM-ARM200FNEOARM透射電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
JEM-ARM200FNEOARM透射電子顯微鏡NEOARM" 標(biāo)配了日本電子獨(dú)自開發(fā)的冷場發(fā)射電子槍（Cold-FEG）和全新的高階球差校正器（ASCOR）。...
JEM-Z300FSC場發(fā)射冷凍電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
JEM-Z300FSC場發(fā)射冷凍電子顯微鏡 場發(fā)射冷凍電子顯微鏡JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300)配備了冷場發(fā)射電子槍、柱體內(nèi)能...
JEM-ACE200F高效分析型電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
JEM-ACE200F高效分析型電子顯微鏡JEM-ACE200F將JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技術(shù)整合在一起，實(shí)現(xiàn)了高度穩(wěn)定性和高分辨率，以精...
JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡JEM-ARM300F2是GRAND ARMTM的第二代產(chǎn)品，該設(shè)備在性能上有了進(jìn)一步的提高，無論采用怎樣的加...
低溫冷凍透射電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
JEM-3300CRYO ARM™ 300 II場發(fā)射冷凍透射電子顯微鏡CRYO ARM™ 300 II 是一款低溫冷凍透射電子顯微鏡，...
JEM-Z200MF無磁場透射電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
JEM-Z200MF無磁場透射電子顯微鏡JEM-Z200MF是一款無磁場物鏡的電子顯微鏡，可以在不向樣品施加強(qiáng)磁場的情況下實(shí)現(xiàn)高分辨率觀察。結(jié)合高次像差校正器，...
XD-1000光譜分析儀 參考價(jià)：面議
XD-1000光譜分析儀是一款全元素上照式熒光光譜儀，可測量納米級厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚，可選配自動平臺實(shí)現(xiàn) XYZ 軸編程位移，實(shí)現(xiàn)無人值守多點(diǎn)測量...
XAU熒光光譜分析儀 參考價(jià)：面議
XAU熒光光譜分析儀XAU 是一款一機(jī)多用型光譜儀，應(yīng)用了*的 EFP 算法和微光聚集技術(shù)，既保留了專用 測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能，又可滿足成分分析。...
愛丁堡RM5拉曼顯微鏡 參考價(jià)：面議
愛丁堡RM5拉曼顯微鏡RM5是一款緊湊的全自動拉曼顯微鏡，用于分析和研究目的。RM5真正的共焦設(shè)計(jì)在市場上并提供了光譜分辨率，空間分辨率和靈敏度。
愛丁堡RMS1000拉曼顯微鏡 參考價(jià)：面議
愛丁堡RMS1000拉曼顯微鏡真正的共聚焦–多位置針孔，可實(shí)現(xiàn)高空間分辨率，熒光和背景抑制以及應(yīng)用優(yōu)化五位置光柵轉(zhuǎn)塔–小于0.1 cm-1的光譜分辨率和5 cm...
奧林巴斯OLS5100-LAF激光共焦顯微鏡 參考價(jià)：面議
奧林巴斯OLS5100-LAF激光共焦顯微鏡配備10.1 英寸TFT-LCD 大顯示屏，分辨率1024*600；· 電容式觸摸屏，專門為示波器操作定義...
奧林巴斯OLS5100-SAF激光共焦顯微鏡 參考價(jià)：面議
奧林巴斯OLS5100-SAF激光共焦顯微鏡適用于故障分析和材料工程研究的OLS5100激光顯微鏡將測量精度和光學(xué)性能與智能工具相結(jié)合，讓顯微鏡更加方便使用。通...
歐林巴斯OLS5100 3D激光掃描顯微鏡 參考價(jià)：面議
歐林巴斯OLS5100 3D激光掃描顯微鏡適用于故障分析和材料工程研究的OLS5100激光顯微鏡將測量精度和光學(xué)性能與智能工具相結(jié)合，讓顯微鏡更加方便使用。通過...
自動光譜橢偏儀SENDURO 參考價(jià)：面議
自動光譜橢偏儀SENDUROSENDURO® 可測量透明和反射基片上單層薄膜和層疊膜的折射率和厚度。SENDURO® 自動掃描則實(shí)現(xiàn)了較高的...
安科瑞泰SENDIRA紅外光譜橢偏儀 參考價(jià)：面議
安科瑞泰SENDIRA紅外光譜橢偏儀橢偏振動光譜利用紅外光譜中分子振動模的吸收帶，可以分析薄膜的組成。此外，載流子濃度可以用傅立葉紅外光譜儀FTIR測量。
安科瑞泰SENpro光譜橢偏儀 參考價(jià)：面議
安科瑞泰SENpro光譜橢偏儀光譜橢偏儀SENpro具有操作簡單，測量速度快，能對不同入射角的橢偏測量數(shù)據(jù)進(jìn)行組合分析等特點(diǎn)。光譜范圍為370到1050 nm。...
安科瑞泰SENresearch 4.0光譜橢偏儀 參考價(jià)：面議
安科瑞泰SENresearch 4.0光譜橢偏儀SENresearch 4.0 光譜橢偏儀覆蓋寬的光譜范圍，從190 nm（深紫外）到3500 nm（近紅外）。...
布魯克S8 TIGER Series 2 X射線熒光光譜儀 參考價(jià)：面議
布魯克S8 TIGER Series 2 X射線熒光光譜儀無論是固體還是液體樣品，在工業(yè)環(huán)境中都能快速，符合人體工程學(xué)的安全處理樣品。
布魯克HD9800工業(yè)光學(xué)顯微鏡 參考價(jià)：面議
布魯克HD9800工業(yè)光學(xué)顯微鏡HD9800是專門用于硬盤行業(yè)磁頭滑塊測量的*的光學(xué)輪廓儀，用于對CCT和PTR的高速自動測量，監(jiān)控其復(fù)雜的加工工藝是否正常。
布魯克ContourSP三維工業(yè)光學(xué)顯微鏡 參考價(jià)：面議
布魯克ContourSP三維工業(yè)光學(xué)顯微鏡ContourSP大面板計(jì)量系統(tǒng)擁有十多年的包裝計(jì)量專業(yè)知識，是上一代SP型號的高密度互連PCB（HDI-PCB）基板...
布魯克Contour Elite X 工業(yè)光學(xué)顯微鏡 參考價(jià)：面議
布魯克Contour Elite X 工業(yè)光學(xué)顯微鏡大樣本的Contour Elite X 3D光學(xué)輪廓儀將的測量功能與業(yè)界大視野和高保真彩色或單色成像上的垂直...
布魯克Contour Elite K 3D光學(xué)顯微鏡 參考價(jià)：面議
布魯克Contour Elite K 3D光學(xué)顯微鏡布魯克的Contour Elite K 3D光學(xué)顯微鏡為表面計(jì)量性能的設(shè)計(jì)和成本效率設(shè)定了新的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。Co...
布魯克InSight CAP自動原子力顯微鏡 參考價(jià)：面議
布魯克InSight CAP自動原子力顯微鏡在*技術(shù)節(jié)點(diǎn)上，利用多圖案光刻技術(shù)對CMP提出了納米工藝控制要求，以滿足聚焦深度的需求。InSight CAP圍繞新...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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