在線的、實時地跟蹤分子間的相互作用
越來越多發(fā)表的科學(xué)文獻證明了QCM-D系統(tǒng)的技術(shù)可靠性。該技術(shù)的核心是石英晶體在負載電壓下以一個特定頻率振蕩。當(dāng)晶體上的質(zhì)量改變時，振蕩的共振頻率也會隨之變化。通過這種方法，可以在納克級靈敏度上測定質(zhì)量變化。
這種*的Q-Sense設(shè)計可以同時測量耗散因子，從而提供薄膜的結(jié)構(gòu)和粘彈性信息。它可以提供諸如吸附膜的分子結(jié)構(gòu)、厚度、水含量的信息。此外還可以檢測反應(yīng)前、進行中和結(jié)束后的表面吸附層的變化。耗散因子是指當(dāng)電路斷開后震蕩的晶體頻率降低到0的時間快慢。
任何可在傳感器上形成薄膜的物質(zhì)都可以進行免標記測試，這些物質(zhì)包括聚合物、金屬和化學(xué)改性表面。實時測試系統(tǒng)每秒可提供高達200個數(shù)據(jù)點。
注：相關(guān)資料如有變化，恕不另行通知，瑞典百歐林科技有限公司對資料中可能出現(xiàn)的紕漏免責(zé)，更多資料詢問。
2
立即詢價
您提交后，專屬客服將第一時間為您服務(wù)