冠層分析儀采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律，在對植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗的公式，通過冠層孔隙率的測定，計算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。冠層分析儀采用的是對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法。
冠層分析儀特點:
1.儀器將顯示屏、操作按鍵、存儲SD卡及測量探桿一體化設(shè)計，操作簡單，體積小，攜帶方便
2.存儲介質(zhì)采用SD卡，存儲容量大，數(shù)據(jù)管理方便
3.冠層分析儀具有自動休眠功能
4.測量方式分為自動和手動兩種。自動測量時間間隔zui小1分鐘，自動測量次數(shù)zui大99次，手動測量根據(jù)實際需要手動采集
冠層分析儀用途與適用范圍:
冠層分析儀可測算植物冠層的太陽直射光透過率、天空散射光透過率、冠層的消光系數(shù)，葉面積指數(shù)和葉片平均傾角等，可用于農(nóng)作物、果樹、森林內(nèi)冠層受光狀況的測量和分析可用于不同植物群體結(jié)構(gòu)的比較；可對農(nóng)田作物群體生長過程進(jìn)行動態(tài)監(jiān)測適用于生態(tài)學(xué)野外植物群體動態(tài)監(jiān)測的研究與教學(xué)；也適用于農(nóng)業(yè)、園藝、林業(yè)領(lǐng)域有關(guān)栽培、育種、 植物群體對比與發(fā)展的研究與教學(xué) 。
冠層分析儀可廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研，為進(jìn)行冠層光能資源調(diào)查，測量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關(guān)系，本儀器用于400nm－700nm波段內(nèi)的光合有效輻射（PAR）測量、記錄,測量值的單位是平方米·秒上的微摩爾（μmols㎡/秒）。由于作物冠層測量儀主要測量作物葉片對光線的攔截，所以該儀器適用于比較低矮的作物，樹木等其他較高的植物，推薦使用冠層分析儀。
