資料下載
西門(mén)子空氣導(dǎo)管探針FK-PZ1產(chǎn)品詳細(xì)介紹
閱讀:566 發(fā)布時(shí)間:2017-11-3提 供 商 | 上海維特銳實(shí)業(yè)發(fā)展有限公司 | 資料大小 | 128.9KB |
---|---|---|---|
資料圖片 | 查看 | 下載次數(shù) | 84次 |
資料類(lèi)型 | PDF 文件 | 瀏覽次數(shù) | 566次 |
免費(fèi)下載 | 點(diǎn)擊下載 |
西門(mén)子探針是電測(cè)試的接觸媒介,為精密型電子五金元器件。
探針是一小段單鏈DNA(大約是20到500bp),用于檢測(cè)與其互補(bǔ)的核酸序列。雙鏈DNA加熱變性成為單鏈,隨后用放射性同位素(通常用磷-32)、熒光染料或者酶(如辣根過(guò)氧化物酶)標(biāo)記成為探針。磷-32通常被摻入組成DNA的四種核苷酸之一的磷酸基團(tuán)中,而熒光染料和酶與核酸序列以共價(jià)鍵相連。
當(dāng)將探針與樣品雜交時(shí),探針和與其互補(bǔ)的核酸(DNA或RNA)序列通過(guò)氫鍵緊密相連,隨后,未被雜交的多余探針被洗去。zui后,根據(jù)探針的標(biāo)記物種類(lèi),可進(jìn)行放射自顯影、熒光發(fā)光、酶聯(lián)化學(xué)發(fā)光等方法來(lái)判斷樣品中是否,或者何位置含有被測(cè)序列(即與探針互補(bǔ)的序列)。
西門(mén)子探針探針?lè)诸?lèi)
探針根據(jù)電子測(cè)試用途可分為:A、光電路板測(cè)試探針:未安裝元器件前的電路板測(cè)試和只開(kāi)路、短路檢測(cè)探針,國(guó)內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進(jìn)口產(chǎn)品;
B、在線(xiàn)測(cè)試探針:PCB線(xiàn)路板安裝元器件后的檢測(cè)探針;產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中,國(guó)內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功,可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品;
C、微電子測(cè)試探針:即晶圓測(cè)試或芯片IC檢測(cè)探針,核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中,國(guó)內(nèi)生產(chǎn)廠(chǎng)商積極參與研發(fā),但只有一小部分成功生產(chǎn)。
探針主要類(lèi)型:懸臂探針和垂直探針。
懸臂探針:劈刀型(Blade Type)和環(huán)氧樹(shù)脂型(Epoxy Type)
垂直探針:垂直型(Vertical Type)
1.ICT探針?。↖CT series Probes)
一般直徑在2.54mm-1.27mm之間,有業(yè)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)稱(chēng)呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線(xiàn)電路測(cè)試和功能測(cè)試.也稱(chēng)ICT測(cè)試和FCT測(cè)試.也是目應(yīng)用較多的一種探針.
2.界面探針(Interface Probes)
非標(biāo)準(zhǔn)的探針,一般是為少數(shù)做大型測(cè)試機(jī)臺(tái)的客戶(hù)定做的,例如泰瑞達(dá)(Teradyne)和安捷倫(Agilent).用于測(cè)試機(jī)臺(tái)與測(cè)試夾具的接觸點(diǎn)和面.
3.微型探針(MicroSeries Probes)
兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)中心間距一般為0.25mm至0.76mm.
4.開(kāi)關(guān)探針(Switch Probes)
開(kāi)關(guān)探針單*支探針有兩路電流.
5.高頻探針(Coaxial Probes)
用于測(cè)試高頻信號(hào),有帶屏蔽圈的可測(cè)試10GHz以?xún)?nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的.
6.旋轉(zhuǎn)探針(Rotator Probes)
彈力一般不高,因?yàn)槠浯┩感员緛?lái)就很強(qiáng),一般用于OSP處理過(guò)的PCBA測(cè)試.
更多詳細(xì)信息請(qǐng)點(diǎn)擊:原裝西門(mén)子系列產(chǎn)品。