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    痕量定量分析的依據(jù)是被測組分的峰面積，因此正確的判峰、測量峰面積（或峰高）是對色譜數(shù)據(jù)處理的zui基本要求。如前所述，在氣相色譜痕量分析中，分析對象的主體和痕量組分之比一般在104∽107 以上，不但電信號十分微弱，峰面積很小，在加上有些痕量分析經(jīng)常只能在拖尾上出峰或出現(xiàn)重疊峰，這對色譜數(shù)據(jù)處理提出了更高的要求。在數(shù)據(jù)處理實(shí)踐中，人們發(fā)現(xiàn)：由于數(shù)據(jù)處理性能或功能欠佳，或由于判峰參數(shù)，測峰參數(shù)不宜設(shè)置合理，會(huì)使辛辛苦苦選配的GC分析系統(tǒng)和千方百計(jì)優(yōu)化色譜分離條件而獲得的痕量組分峰畸變，要么沒有檢測到，要么誤判。為了達(dá)到痕量分析的目的和獲得準(zhǔn)確的定量分析結(jié)果，痕量分析應(yīng)選購數(shù)據(jù)處理裝置中應(yīng)屬于*產(chǎn)品。目前，用于數(shù)據(jù)處理裝置大體可分為三類。以往常用的長圖形電子電位差計(jì)（即記錄儀）由于死區(qū)大、靈敏度低，測量計(jì)算峰面積困難、精度差，不適于做痕量分析用。色譜數(shù)據(jù)處理機(jī)（積分儀）和色譜數(shù)據(jù)處理工作站均屬于電子全自動(dòng)數(shù)據(jù)處理裝置，基本處理功能相似。可以依據(jù)性能與功能好壞比較能否用于痕量分析。判斷一臺(tái)積分器或色譜數(shù)據(jù)處理工作站好與壞，從理論上講主要看使用的數(shù)據(jù)處理與計(jì)算方法是否比較*，但設(shè)計(jì)制造者從來也不愿意標(biāo)明自己和別的同類產(chǎn)品相比， 所用計(jì)算方法的優(yōu)劣。因此，用戶很難從說明書，技術(shù)性能上zui終判定好壞。
在購置色譜數(shù)據(jù)處理裝置時(shí)一般只能：
①了解供應(yīng)商的品牌或信譽(yù)；
②同行或相關(guān)單位有無實(shí)際使用情況比較；
③請內(nèi)行人依據(jù)性能和功能進(jìn)行測試比較。
      實(shí)踐證明：一臺(tái)劣質(zhì)數(shù)據(jù)處理裝置在做數(shù)據(jù)處理時(shí)本身的性能與GC儀器分析要求不匹配,反而幫了到忙。若是一臺(tái)性能好，功能齊全的數(shù)據(jù)處理裝置不但能如實(shí)準(zhǔn)確的處理數(shù)據(jù)，而且還有一定的軟降噪功能，可使信/噪比提高了幾倍到幾十倍之多。這樣一來，由于采用了性能優(yōu)良的數(shù)據(jù)處理裝置，降低了對色譜儀器性能的要求和簡化了分析條件的優(yōu)化。通過以上簡述不難看出選購數(shù)據(jù)處理裝置并不比GC來得簡單。更詳細(xì)介紹請參考有關(guān)資料或到本進(jìn)行咨詢。