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      X熒光光譜儀能夠對生活中不同元素形成的各式各樣的導體及非導體材料進行分析。那么X熒光光譜儀在檢測分析時采用了哪些定律呢？
　　1、莫塞萊定律
　　莫塞萊定律是反應各個元素X射線特征光譜規(guī)律的一種實驗定律，依靠莫塞萊定律進行分析的方式也是可靠的方法之一。X熒光光譜儀在對材料進行分析時也會使用到這一定律，在分析時X熒光光譜儀能夠對內層電子的躍遷產生的、表明X射線特征的光譜和原子序數(shù)一一對應起來，從而獲得分析結果。
　　2、布拉格定律
　　該定律是一種可以反映晶體衍射基本關系的理論推導定律，同時，布拉格定律是波長色散型X熒光光譜儀所使用的分光原理，在進行材料檢測分析的時候能夠讓不同元素不同波長的特征X熒光分開，使譜線處理工作變得非常簡單，降低儀器檢出限。
　　3、比爾-朗伯定律
　　比爾-朗伯定律是反應樣品吸收狀況的定律，涉及到理論X射線熒光相對強度的計算問題。X熒光光譜儀采用這一定律進行檢測分析時，樣品可以被激發(fā)出各種波長的熒光X射線，需要將混合的X射線按波長分開，分別測量不同波長的X射線強度，以進行定性和定量分析。