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鵬銳廠家大量生產(chǎn)，供貨能力充足；90%的零部件源自進(jìn)口，保障性能穩(wěn)定，持久耐用；
設(shè)備外觀采用激光成形，鈑金無(wú)縫隙，穩(wěn)固性強(qiáng)；出廠進(jìn)行精密性能檢測(cè)，保障符合國(guó)標(biāo)和軍標(biāo)；
設(shè)備送貨上門，工程師到廠交機(jī)，現(xiàn)場(chǎng)培訓(xùn)操作；免費(fèi)保修兩年，出現(xiàn)故障會(huì)安排技術(shù)上門維護(hù)；
全國(guó)微笑服務(wù)*：
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
一、冷熱沖擊測(cè)試箱簡(jiǎn)介：
冷熱沖擊測(cè)試箱又命名為冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)廠家，是專業(yè)用于電池、耳機(jī)、芯片、PCB等組件和原材料在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度, 藉以在zui短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適用的對(duì)象包括金屬, 塑料, 橡膠, 電子，科研單位，高等院校，質(zhì)量檢測(cè)院等，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。
二、應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn) ：
1.GB/T 10589-1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
2.GB/T 11158-1989 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
3.GB/T 10592-1989 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
4.GB/T 2423.1-2001 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法
5.GB/T 2423.2-2001試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法
6.GB/T 2423.22-2002試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法
7.GJB150.3-1986高溫試驗(yàn)
8.GJB150.4-1986低溫試驗(yàn)
三、控制系統(tǒng)：
韓國(guó)*TEMP2000S
高分辨?彩色觸摸屏接口
交互式參數(shù)輸入方式
支持英文，中文
提供內(nèi)置SMPS的I/O RELAY BOARD-接線簡(jiǎn)化和節(jié)省成本
高精確、高信任度
基于PC的方便監(jiān)控
方便設(shè)定多達(dá)33種的輸出（內(nèi)置計(jì)時(shí)器）方式
支持利用USB存儲(chǔ)器-可代替記錄器
內(nèi)置基于*的PID算法的自動(dòng)調(diào)諧功能
提供強(qiáng)有力的通訊環(huán)境和支持99臺(tái)多分支結(jié)構(gòu)
的Fuzzy功能和ARW啟動(dòng)-抑制超程
標(biāo)準(zhǔn)RS-232C、 RS-485通訊介面
四、技術(shù)參數(shù)：
⑴內(nèi)部尺寸：D40×W35×H36 cm
⑵外部尺寸：D140×W120×H172 cm
⑶試驗(yàn)槽溫度使用范圍：－40℃～＋150℃(指風(fēng)冷式在室溫＋26℃,空載時(shí))
⑷高溫槽溫度設(shè)定范圍：＋60℃～＋200℃
⑸高溫槽升溫時(shí)間:RT（室溫）～＋200℃約需35min（室溫在＋10～＋30℃時(shí)）
⑹低溫槽溫度設(shè)定范圍：－60℃～0℃
⑺低溫槽降溫時(shí)間:RT（室溫）～－60℃約需75min
（室溫在＋10～＋26℃時(shí)）
⑻溫度波動(dòng)度：±1.0℃
溫度均勻度:±2.0℃
⑼沖擊歸復(fù)時(shí)間：－60～＋155小于5min（空載）
(高低溫沖擊恒溫時(shí)間各為30min以上)
鄭重承諾?。?年免費(fèi)保修，免費(fèi)送貨安裝，安排工程來(lái)到現(xiàn)場(chǎng)調(diào)試及技術(shù)培訓(xùn)，終生維護(hù).