GB/T 2423.2-2008試驗(yàn)B

本頁面標(biāo)準(zhǔn)信息均來源于網(wǎng)絡(luò)收集，或由參與標(biāo)準(zhǔn)制定的供應(yīng)商提供，只作為參考使用，為確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性、節(jié)省您的時(shí)間，如需GB/T 2423.2-2008試驗(yàn)B標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)信息或GB/T 2423.2-2008試驗(yàn)B具體測試方法，請與我們技術(shù)人員聯(lián)系或給我們留言，我們將為您提供相關(guān)的技術(shù)支持。

 

GB/T 2423.2-2008試驗(yàn)B是關(guān)于《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫》的測試標(biāo)準(zhǔn)與2009-10-01日開始實(shí)施

GB/T 2423.2是GB/T 2423標(biāo)準(zhǔn)的第2部分，GB/T 2423標(biāo)準(zhǔn)的組成部分見資料性附錄NA。

本部分等同采用IEC 60068-2-2:2007《環(huán)境試驗(yàn)第2-2部分：試驗(yàn)試驗(yàn)B：干熱》(英文版)。

本部分與IEC 60068-2-2：2007相比，主要做了下列編輯性修改：

本部分的名稱改為：《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫》;

“本標(biāo)準(zhǔn)”一詞改為“本部分”;

——刪除了IEC 60068-2-2：2007前言;

——刪除了IEC 60068-2-2:2007引言，將其內(nèi)容轉(zhuǎn)化為增加的資料性附錄NB的內(nèi)容;

——增加了資料性附錄“GB/T 2423標(biāo)準(zhǔn)的組成部分”(見附錄NA);

增加了資料性附錄“試驗(yàn)A:低溫和試驗(yàn)B:高溫的分類代號小寫字母之間的關(guān)系”(見附錄NB)：

——刪除了第1章第1段中的“對于非散熱試驗(yàn)樣品，”;

——第2章規(guī)范性引用文件一覽表增加了對GB/T 2423. 22的引用;

——4.3標(biāo)題“溫度突變與溫度漸變試驗(yàn)應(yīng)用對比”改為“溫度漸變試驗(yàn)”;

—— 6.8.2標(biāo)題“優(yōu)良濕度”改為“濕度”。

為清晰起見，上述修改已在正文相應(yīng)位置加了腳注。

本部分代替GB/T 2423. 2-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫》，與之相比，主要變化如下：

——刪除了試驗(yàn)Ba：非散熱試驗(yàn)樣品溫度突變的高溫試驗(yàn);

——刪除了附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E、附錄F;

——增加了試驗(yàn)Bc:散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的高溫試驗(yàn) 試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過程通電。