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鍍層測厚儀的原理和其精度的影響因素介紹
閱讀：711 發(fā)布時間：2024-3-29
鍍層測厚儀具有測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點，廣泛地應用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領域，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量不可少的檢測儀器。
工作原理：
鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。
影響測量精度的原因有：
(1)覆蓋層厚度大于25µm時,其誤差與覆蓋層厚度近似成正比；
(2)基體金屬的電導率對測量有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關；
(3)任何一種測厚儀都要求基體金屬有一個臨界厚度,只有大于這個厚度,測量才不會受基體金屬厚度的影響；
(4)渦流測厚儀對式樣測定存在邊緣效應,即對靠近式樣邊緣或內(nèi)轉角處的測量是不可靠的；
(5)試樣的曲率對測量有影響,這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大；
(6)基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測量的精度,粗糙度增大,影響增大；
(7)渦流測厚儀對妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感.因此測量前應清除測頭 和覆蓋層表面的污物;測量時應使測頭與測試表面保持恒壓垂直接觸。