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x射線熒光鍍層測(cè)厚儀的原理和應(yīng)用
閱讀：4819 發(fā)布時(shí)間：2019-11-28
x射線熒光鍍層測(cè)厚儀可以檢測(cè)鍍金層、鍍鎳層、鍍鋅層、鍍鉻層、鍍銀層、鍍銅層、鍍錫層的厚度。
x射線熒光鍍層測(cè)厚儀的原理：
X射線或粒子射線經(jīng)物質(zhì)照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來(lái)，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來(lái)。熒光X射線鍍層厚度測(cè)量?jī)x或成分分析儀的原理就是測(cè)量這被釋放出來(lái)的熒光的能量及強(qiáng)度，來(lái)進(jìn)行定性和定量分析
x射線熒光鍍層測(cè)厚儀的應(yīng)用領(lǐng)域：
1、黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè).
2、金屬鍍層的厚度測(cè)量 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。
3、貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。