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CMI165手持式面銅測(cè)厚儀膜厚儀
- 發(fā)布日期：
- 有效日期：
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- 產(chǎn) 地：
- 已獲點(diǎn)擊：
- 2024年8月21日
- 2026年4月16日
- 廣東深圳市
- 美國(guó)
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【產(chǎn)品簡(jiǎn)介】
【詳細(xì)說(shuō)明】
CMI165手持式面銅測(cè)厚儀膜厚儀
面銅測(cè)量的結(jié)果往往受到樣品溫度的影響。CMI165手持式面銅測(cè)厚儀膜厚儀的溫度補(bǔ)償功能解決了這個(gè)問(wèn)題，確保測(cè)量結(jié)果精確而不受銅箔溫度的影響。這款多用途的手持式測(cè)厚儀配有探針?lè)雷o(hù)罩，確保探針的耐用性即使在惡劣的使用條件下也可以照常進(jìn)行檢測(cè)。
規(guī)格參數(shù)：
| 利用微電阻原理通過(guò)四針式探頭進(jìn)行銅 厚測(cè)量，符合EN 14571測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) 厚度測(cè)量范圍 .化學(xué)銅:(0.25一12.7) um, (0.01-0.5) mils .電鍍銅:(2.0-254) Nm, (0.1一10) mils 儀器再現(xiàn)性:a二0.08 Nm at 20 Nm (0.003 mils at 0.79 mils) 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析功能，包括數(shù)據(jù)記 錄、平均數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)差和上下限提醒功
|
數(shù)據(jù)顯示單位可選擇mils, um或。 儀器的操作界面有英文和簡(jiǎn)體中文兩種 語(yǔ)言供選擇 儀器無(wú)需特殊規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)片，同樣可實(shí)現(xiàn) 蝕刻后的線型銅箔的厚度測(cè)量，可測(cè)線 寬范圍低至204 um (8 mils) 儀器可以儲(chǔ)存9690條檢測(cè)結(jié)果(測(cè)試日 期時(shí)間可自行設(shè)定) 測(cè)試數(shù)據(jù)通過(guò)USB2.0實(shí)現(xiàn)高速傳輸，也 可保存為excel格式文件 儀器為工廠預(yù)校準(zhǔn) 客戶可根據(jù)不同應(yīng)用靈活設(shè)置儀器 用戶可選擇固定或連續(xù)測(cè)量模式 儀器使用普通AA電池供電 | |
探頭優(yōu)勢(shì)：
牛津儀器
檢測(cè)探頭SRP-T1
SRP-T1探針可由客戶自行替換，替換
后無(wú)需再校準(zhǔn)即可使用
備用的SRP-T1探頭減少了用戶設(shè)備的
停工期
探針的照明功能有助于線型銅箔檢測(cè)時(shí)的準(zhǔn)確定位
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