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臺(tái)式孔面銅測(cè)試儀 產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
MHY-31193適用于印制線(xiàn)路板孔內(nèi)及表面銅層厚度的非破壞性測(cè)量,同時(shí)它也是為測(cè)量剛性及柔性、單層、雙層或多層印刷電路板上的電鍍銅測(cè)量而設(shè)計(jì)。
臺(tái)式孔面銅測(cè)試儀 型號(hào)：MHY-31193
1.臺(tái)式孔面銅測(cè)試儀 產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
MHY-31193適用于印制線(xiàn)路板孔內(nèi)及表面銅層厚度的非破壞性測(cè)量,同時(shí)它也是為測(cè)量剛性及柔性、單層、雙層或多層印刷電路板上的電鍍銅測(cè)量而設(shè)計(jì)。
2、產(chǎn)品功能和特點(diǎn)：
1) 孔銅測(cè)試和面銅鍍層厚度測(cè)試一體式設(shè)計(jì)，一機(jī)多用，性?xún)r(jià)比高。
2) 孔銅測(cè)試采用電渦流原理實(shí)現(xiàn)孔內(nèi)銅厚度準(zhǔn)確的測(cè)量，快速無(wú)損的測(cè)量孔內(nèi)鍍層厚度。
3) 面銅測(cè)試采用微電阻方法來(lái)達(dá)到對(duì)表面銅準(zhǔn)確的測(cè)量，無(wú)需破壞樣品。
4) 10.1 寸觸控式彩色屏幕，操作界面輕松上手，量測(cè)與統(tǒng)計(jì)一目了然。
5) 孔銅面銅測(cè)試時(shí)間均有溫度補(bǔ)償功能，所測(cè)數(shù)據(jù)穩(wěn)定性高。
6) 內(nèi)置工業(yè)控制 PC 電腦，無(wú)限制（硬盤(pán)儲(chǔ)存大小決定）應(yīng)用程序和儲(chǔ)存數(shù)據(jù)要求。
7) 孔銅采用進(jìn)口測(cè)試探頭，并且可以自用更換。
8) 面銅采用可更換探針設(shè)計(jì)，單獨(dú)更換探針，節(jié)省成本。
9) 面銅探針有多種間距可選，根據(jù)測(cè)試面積大小，可以進(jìn)行選擇更換。
10) 全電腦軟件界面操作，孔銅和面銅測(cè)試快速切換。
11) 具有高的可擴(kuò)展性，可以直接進(jìn)行擴(kuò)展 MES 連接，自定義報(bào)表統(tǒng)計(jì)，打印，保存等。
12) 測(cè)試頭采用快速插拔式接頭設(shè)計(jì)，更換簡(jiǎn)單易操作。
13) 出廠(chǎng)預(yù)設(shè)校準(zhǔn)程序，并且可以獨(dú)立設(shè)定孔銅校準(zhǔn)程序和面銅校準(zhǔn)程序。
14) 可以設(shè)定校準(zhǔn)因子，補(bǔ)償，銅的電導(dǎo)率等參數(shù)，以符合產(chǎn)品規(guī)格與標(biāo)準(zhǔn)。
15) 測(cè)量單位可以公制，英制進(jìn)行轉(zhuǎn)換。
16) 中英文操作界面，方便使用。
17) 儀器采用輕質(zhì)鋁合金全金屬外殼，并進(jìn)行陽(yáng)極氧化處理，堅(jiān)固耐腐蝕。
面銅測(cè)試原理 面銅測(cè)試采用微電阻測(cè)試技術(shù)，利用四根接觸式探針在表面銅箔上產(chǎn)生電信號(hào)進(jìn)行測(cè)量，當(dāng)探頭接觸銅箔樣品時(shí)，恒定電流通過(guò)外側(cè)兩根探針，而內(nèi)側(cè)兩根探針測(cè)得該電壓的變化值。根據(jù)歐姆定律電壓值被轉(zhuǎn)換為電阻值，利用一定的函數(shù)，計(jì)算出厚度值，不
受絕緣板層和線(xiàn)路板背面銅層影響。
孔銅測(cè)試原理
應(yīng)用電渦流測(cè)試技術(shù)。測(cè)量時(shí)利用探頭釋放出電磁波，當(dāng)磁場(chǎng)切割金屬層時(shí)會(huì)發(fā)生磁場(chǎng)
變化，通過(guò)計(jì)算此變化量計(jì)算出孔壁銅厚度。測(cè)量不受板內(nèi)層影響，即使是雙層板或多
層板，甚至在有錫或錫/鉛保護(hù)層的情況下，同樣能夠良好工作。另外，探頭采用溫度補(bǔ)
償技術(shù)，即使是剛從電鍍槽內(nèi)取出的板，也能測(cè)量孔銅厚度。
技術(shù)參數(shù)
顯示屏 高亮度 10.1 寸彩色 IPS-觸摸屏
單 位 可切換公制(um)及英制(mils)單位選擇。
連接口 VGA 接口，RJ-45 千兆網(wǎng)絡(luò)接口，2*USB2.0 接口，孔銅探頭接口，面銅探頭接口
統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù) 量測(cè)點(diǎn)數(shù)、平均值、極差、高值、低值等。
儲(chǔ)存量 根據(jù)硬盤(pán)大小，可以無(wú)限制儲(chǔ)存程序和測(cè)試記錄文件。
測(cè)試模式 可選擇單次、連續(xù)測(cè)量模式。
面銅準(zhǔn)確度 準(zhǔn)確度：5%，參考標(biāo)準(zhǔn)片。
面銅測(cè)試范圍 0.2-500μm (0.008-19.69mil)。
面銅校準(zhǔn)方式 兩點(diǎn)校準(zhǔn)或者多點(diǎn)校準(zhǔn)，不需要切換測(cè)試檔案，單個(gè)程序可以全量程覆蓋。
面銅探頭 采用微電阻測(cè)試技術(shù)。
孔銅準(zhǔn)確度 5%，參考標(biāo)準(zhǔn)片。
孔銅分辨率 0.01 mils (0.25 μm)電渦流：遵守 ASTM E37696 標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)規(guī)定。
孔銅精度 1.2 mil 時(shí)，1.0% （典型情況下）。
孔銅測(cè)量厚度范圍 1--105μm （0.04-- 4.13 mils）。
孔徑范圍 Φ0.899 mm--Φ3.0 mm，孔小直徑Φ35 mils (Φ899 μm)。
校準(zhǔn)方式 單點(diǎn)標(biāo)準(zhǔn)片校正
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