膜厚儀標準片X-RAY測厚儀校正片

用于校準和檢驗測厚儀的重要工具。

它具有已知的單位面積質(zhì)量或厚度的均勻覆蓋層。

-般來說，選擇測厚儀標準片時需考慮以下因素:

要求:應根據(jù)測厚儀的厚度要求和實際測量需要選擇具有相應的標準片。

2.覆蓋層和基體材料:標準片應與被測試樣具有相同的覆蓋層和基體材料。然而，對于試樣基材為合金成分的情況，有些儀器軟件允許標樣基材與被測試樣基材不同，但前提是標準塊基體材料與試樣基材中的主元素相同。

3.x射線發(fā)射(或吸收)特性:校正標準塊的覆蓋層應與被測覆蓋層具有相同的 x射線發(fā)射(或吸收)特性。如果厚度由x射線吸收方法或比率方法確定，則厚度標準塊的基體應與被測試樣的基體具有相同的

X射線鍍層測厚儀標準塊校正片

MicroP XRF-2020測厚儀標準塊

通用型:可應用各種X射線測厚儀品牌

用于校正鍍層測厚儀

標準曲線及添加應用程序

銅/鎳/鋅/鉻/銀/金/鈀/錫/鋅鎳合金等

膜厚儀標準片X-RAY測厚儀校正片標準片可訂制，均附帶標準證書