多模態(tài)光電顯微鏡 熒光壽命成像 廣泛應(yīng)用于材料或器件分析。

[發(fā)光材料/熒光壽命測試和Mapping]

面對新型平板顯示和固體照明技術(shù)的需求，對發(fā)光材料的不斷研究成為了推動顯示和照明產(chǎn)業(yè)升級換代的重要基礎(chǔ)。其中，無機(jī)金屬鹵化物發(fā)光材料和有機(jī)發(fā)光材料因熒光量子產(chǎn)率高，發(fā)射光譜窄，波長可調(diào)等優(yōu)異性而備受關(guān)注。因此，通過使用熒光壽命測試和成像的方式，可以有效地對發(fā)光材料進(jìn)行高分辨率下的表征，通過對FRET效應(yīng)，磁場效應(yīng)，電子-聲子合效應(yīng)等不同物理機(jī)制的研究和驗證，來實(shí)現(xiàn)得到物理性質(zhì)更好的發(fā)光材料，來為生物成像，輻射探測，光催化等領(lǐng)域提供潛在的應(yīng)用前景。

可以實(shí)現(xiàn)對樣品光電流信號，PL光譜信號和熒光壽命的數(shù)據(jù)采集；可以實(shí)現(xiàn)對樣品拉曼特性和熒光壽命特性的掃描表征和研究

[二維材料/PL Mapping and Raman Mapping]

二維材料具有超高的載流子遷移率，強(qiáng)的光-物質(zhì)相互作用，電/光學(xué)性質(zhì)的各向異性，層間范德華力結(jié)合等特性，使其在光電子領(lǐng)域具有光明的應(yīng)用前景。其中，窄帶二維材料在紅外光電探測器中表現(xiàn)出了巨大的應(yīng)用潛力。光致發(fā)光光譜是一種快速，非破壞性提供材料結(jié)構(gòu)的表征手段，同時具有很高的空間分辨率。因此，通過使用光電流測試和光譜掃描的方式，可以有效地對二維材料進(jìn)行高分辨率下的表征，來實(shí)現(xiàn)不同異質(zhì)結(jié)構(gòu)下更高的熒光量子效率和可調(diào)諧光譜共振，為更多領(lǐng)域帶來潛在的應(yīng)用前景。

多模態(tài)光電顯微鏡 熒光壽命成像 可以同時實(shí)現(xiàn)對樣品光電流信號和PL光譜信號的數(shù)據(jù)采集；可以對相關(guān)二維材料進(jìn)行拉曼特性的掃描表征和研究；可以在掃描空間分辨率下實(shí)現(xiàn)對亞微米級樣品的光電掃描。