JSX-1000S型X射線熒光光譜儀采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（FP法?檢量線法）、RoHS元素篩選功能等。日本電子ROHSX射線熒光分析儀金屬成分分析豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更廣泛的分析。

  主要特點                                                                                                                                                  

1.   操作簡便  

* 日本電子ROHSX射線熒光分析儀金屬成分分析 只需安裝樣品，和觸摸屏幕。

*  觸摸操作還可以進行分析結(jié)果與譜圖的顯示切換，如同使用平板電腦和智能手機一般簡單（利用鍵盤、鼠標(biāo)也能操作）。

*  GUI界面簡明易懂，操作直觀。

2.   高靈敏度&高通量  

JEOL 新開發(fā)的SDD( 硅漂移檢測器) 和新設(shè)計的光學(xué)系統(tǒng)及可以支持整個能量范圍的濾波器使得高靈敏度的分析成為可能。安裝樣品室真空排氣單元( 選配項) 對輕元素可以提高檢測靈敏度。

整個能量范圍內(nèi)的高靈敏度分析

使用濾波器（最多9種*） 和樣品室真空排氣單元能夠在整個能量范圍內(nèi)進行高靈敏度的分析。

* Cl、Cu、Mo、Sb 為選配項

微量元素檢測實例（10ppm以下）

3.   提供解決方案  

解決方案應(yīng)用軟件能根據(jù)預(yù)先登錄的菜譜自動執(zhí)行所希望的測試分析。只需從解決方案應(yīng)用軟件的列表中選擇目標(biāo)解決方案的圖標(biāo)，就能輕松獲得分析結(jié)果，可為各種行業(yè)提供簡化的分析。

新開發(fā)的智能FP（基本參數(shù)法）法，不需要準(zhǔn)備標(biāo)樣，并且能自動進行殘留成分和厚度的校正， 獲得高度準(zhǔn)確的定量結(jié)果。
（殘留成分和厚度校正功能只支持有機物樣品）

• （mass%）

• 主要參數(shù)

• 
  

• 檢測元素范圍	Mg～U
  	F～U（選配）
  X射線發(fā)生裝置	5～50　kV ,  1mA
  靶材	Rh
  一次濾波器　最多9種　自動交換	標(biāo)準(zhǔn)：OPEN, ND, Cr, Pb, Cd
  	選配：Cl, Cu, Mo, Sb
  準(zhǔn)直器3種　自動交換	0.9mm, 2mm, 9mm
  檢測器	硅漂移檢測器（SDD）
  樣品室尺寸	300mmφ×80mmH
  樣品室氣氛	大氣　/　真空(選配）
  樣品室觀察機構(gòu)	彩色攝像機
  操作用電腦	Windows ®　觸控屏 臺式電腦
  分析軟件（標(biāo)準(zhǔn)）	定性分析（自動定性、KLM標(biāo)記、和峰顯示、譜圖檢索） 定量分析（塊狀FP法、檢量線法） RoHS分析解決方案（Cd, Pb,Cr, Br, Hg) 簡易分析解決方案 報告制作軟件
  分析軟件（選配）	薄膜FP法分析軟件 關(guān)聯(lián)濾波器FP法分析軟件
  日常檢查軟件（標(biāo)準(zhǔn)）	管球升壓、能量校正、強度校正

• Windows ® 為美國微軟公司在美國或其它國家的注冊商標(biāo)或商標(biāo)。

• 
  

• 日本電子ROHSX射線熒光分析儀金屬成分分析主要附件：

• 1.  樣品室真空排氣單元

• 2.  多樣品自動交換單元

• 3.  濾波器組

• 4.  濾膜FP 法分析軟件

• 5.  薄膜FP 法分析軟件

• 6.  和峰消除軟件

• 7.  鎳鍍層篩選解決方案

• 8.  錫鍍層篩選解決方案

• 9.  氯元素篩選解決方案