PROTO AXRD 臺式X-射線衍射儀
- 公司名稱 廣州貝拓科學技術有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2025/7/2 13:52:43
- 訪問次數(shù) 5775
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廣州貝拓科學技術有限公司成立于2010年8月，是國家高新技術企業(yè)，廣州科技小巨人企業(yè)，并在廣東股權交易中心成功掛牌（股權代碼：892081），通過ISO9001-2015質量體系認證和知識產(chǎn)權貫標認定體系，擁有近30項國家磚利。貝拓科學一直從事光譜分析儀器領域，自主研發(fā)儀器有光學接觸角測量儀，拉曼光譜儀，表界面張力儀，白光干涉膜厚分析儀，陣列式紫外可見分光光度計，積分球式透反射率測試儀等。具備光學設計、機械設計、軟件編寫和算法編寫核心能力，和中山大學、廣州大學、華南師范大學有緊密的合作關系，并且是廣州大學物理與光電學院的長期實習基地。貝拓科學所研發(fā)生產(chǎn)的產(chǎn)品定位在國內高水平，未來面向市場。
貝拓科學陪伴著科學家一起探索未知事件，“Touch the future”作為我們的口號，貝拓科學尊重以嚴謹?shù)目茖W理論為指導，為科學家提供有力的科研工具。我們默默堅持做前沿分析儀器的搬運工，陪伴科學家不斷成長。我們很榮幸作為一些有儀器生產(chǎn)廠家，例如：日本Hitachi，德國WITec,德國Bruker，英國OXFORD，美國ThermoFisher,Ametek旗下輸力強和普林斯頓,以及中國臺灣OtO等大電子儀器廠家的代理，一起為中國的科學家提供專業(yè)的服務。
我們的宗旨是為科學學提供更專業(yè)，更貼心的服務。
我們的優(yōu)勢和專注點集中于材料測試方面，為了普惠科研工作者，我們還提供測試服務，其中包括材料的結構、元素分布、表面特征、物理化學特性以及光學、電學特性的分析。
材料分析領域代理品牌：
OXFORD（牛津）、FEI（賽默飛）、KeySight(前安捷倫納米部)、STOE、AMETEK(阿美特克)、TESCAN(泰思肯)、LEICA、KRUSS、BEL、HITACHI（日立）、OTO（中國臺灣超微光學）、WITec（威泰克）、BRUKER（布魯克）、普析、徠卡、本原納米等。
接觸角測量儀、在線測厚儀、光學膜厚儀、紅外光譜儀、拉曼成像光譜儀、拉曼電鏡、低溫恒溫器、掃描探針顯微鏡/原子力、納米壓痕劃痕儀、橢偏儀、熱分析、差示掃描熱儀
| 價格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 探測器及其他設備 |
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PROTOAXRD臺式X-射線衍射儀
PROTOAXRD臺式X-射線衍射儀是易于使用,并提供準確、可靠的測量結果與類似的速度全尺寸實驗單位。配備強大的混合光子計數(shù)探測器,AXRD臺式X-射線衍射儀具有極快的數(shù)據(jù)收集能力。低分辨率掃描數(shù)據(jù)收集只需3min，高分辨率掃描數(shù)據(jù)收集只需15-30min。令人難以置信的低角度性能,優(yōu)秀的峰值低至1o。
600W的x射線的力量,可以實現(xiàn)的應用解決峰值：<0.05°2θ角精度的<±0.02°Δ2θ全角范圍,AXRD臺式,提供了一個低成本替代粉末衍射,同時保持所有必要的性能,即使是較苛刻的x射線衍射材料調查。
無論你是做階段識別、定量分析或結構分析AXRD臺式帶給你多年的方便和價值在一個緊湊的,易于維護系統(tǒng)。
優(yōu)秀的分辨率，準確性和數(shù)據(jù)質量
PROTOAXRD臺式X-射線衍射儀
無論你是做階段識別、定量分析或結構分析AXRD臺式帶給你多年的方便和價值在一個緊湊的,易于維護系統(tǒng)。
優(yōu)秀的分辨率，準確性和數(shù)據(jù)質量
六硼化鑭
二十二酸銀鹽
*進的x射線探測器
DECTRIS®混合光子計數(shù)探測器——高速數(shù)據(jù)采集
-640通道高速固態(tài)線性探測器。
-同時多個通道集合使集合的速度比a快100倍。閃爍計數(shù)器
-使用硅片技術直接檢測x射線。
—全球1x10^9計數(shù)的計數(shù)率/s
-高速采集時間。
-32毫米x8毫米傳感器區(qū)域。
-優(yōu)良的信噪比和非常高的動態(tài)范圍。
-熒光抑制模式
SPD硅點探測器-XRD和XRF在一個方便的包中。
-能量甄別單通道固態(tài)探測器。
-推薦用于高熒光的樣品(例如Fe和Co)
-不需要衍射光束單色器。
—Kβ抑制功能
—粉使用Kα1模式集合,2或Kβ
-使用XRF頻譜來協(xié)助樣品的化學鑒定，并改善搜索結果。
優(yōu)異的精確性
我們的全合一軟件對粉末模式的數(shù)據(jù)采集和分析是基本定性和定量分析的*解決方案。XRDWIN的一些功能包括:儀器預熱和控制、數(shù)據(jù)采集、k-alpha1和k-alpha2分離、數(shù)據(jù)平滑、集成強度、背景擬合、峰搜索、峰擬合、強度比方法定量分析、尖峰法定量分析、晶粒尺寸和應變。另外還有ICDD數(shù)據(jù)庫搜索匹配和MDIJade接口。我們提供無限的軟件支持。
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