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美瑞克程控耐壓測(cè)試儀RK7110
本系列程控耐壓測(cè)試儀是采用高速M(fèi)CU和大規(guī)模數(shù)字電路設(shè)計(jì)的高性能的安規(guī)測(cè)試儀,其輸出電壓的大小,輸出電壓的上升、下降。輸出電壓的頻率安全由MCU控制,能實(shí)時(shí)顯示擊穿電流和電壓值,并具有軟件校準(zhǔn)功能,可以直觀、準(zhǔn)確、快速地測(cè)試各種被測(cè)對(duì)象的擊穿電壓、漏電流等電氣安全性能指標(biāo),并可以作為高壓源用來(lái)測(cè)試元器件和整機(jī)性能。
應(yīng)用領(lǐng)域
性能特點(diǎn)
美瑞克程控耐壓測(cè)試儀RK7110
蘇州裕登電子科技有限公司
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